X射线衍射仪的应用有什么?
纳米材料粒径的表征
纳米材料的颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小,较易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。谢乐微晶尺度计算公式为:
其中λ为X射线波长,βHKL为衍射线半高峰宽处因晶粒细化引起的宽化度,多晶XRD射线衍射仪价格,测定过程中选取多条低角度(2θ≤50°)X射线衍射线计算纳米粒子的平均粒径。
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X射线衍射仪的主要技术参数:
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1、X射线发生器的稳定度:这不仅关系到所测衍射强度的准确可靠,而且关系到所有部件的准确和稳定。现代粉末衍射仪的光源稳定性一般在外电源变化10%以内,多晶XRD射线衍射仪,输出变化0.01%以内。
2、X射线管的功率:对于密封式X射线管,多晶XRD射线衍射仪哪家好,Cu靶一般为2kw,Ag、Mo、W等靶一般大于2kw,而对Co、Fe、Ni等靶则小于2kw。对于转靶,常用的有12kw和18kw。
3、单色器的效率:应不小于25%。
4、探测器的效率:视品种而异。
5、计数的线性范围:关系到强度测量的准确性,一般在 cps。有许多仪器附加了校正软件,宣称可以达到 cps。
6、衍射角(2θ)的测量准确度和准确度。
7、分辨率:常用的Si(311)衍射峰的半高宽来代表。对于一般实验室粉末衍射仪,此值约在0.05°~0.1°之间。
X射线衍射仪基本信息
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X射线衍射仪技术(X-ray diffraction,XRD)。通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。